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產品中心

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  • 供應美國TSI 8533/8534顆粒物分析儀   美國*

    DUSTTRAKTMDRX8533/8534型DUSTTRAKTMDRX8533/853(氣溶膠)分析儀,是世界上*綜合采用光散射激光光度計和光學粒子計數器(OPC)的測量技術,同時測量質量濃度和粒徑分布,完成不同粒徑段質量濃度的測試。 供應美國TSI 8533/8534顆粒物分析儀 美國*

    更新時間:2016-05-09
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  • DUSTTRAKTMDRX8533/8534型PM2.5、PM10可吸入顆粒物分析儀

    DUSTTRAKTMDRX8533/8534型PM2.5、PM10可吸入顆粒物分析儀,綜合采用光散射激光光度計和光學粒子計數器(OPC)的測量技術,同時測量質量濃度和粒徑分布。

    更新時間:2016-05-09
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  • 美國TSI DUSTTRAKTMDRX8533/8534型PM2.5、PM10可吸入顆粒物分析儀

    DUSTTRAKTMDRX8533/8534型PM2.5、PM10可吸入顆粒物分析儀,采用顆粒云(所有散射光面積)和單顆粒監測相結合的技術,*優于市面上通用的單獨測量PM10或者PM2.5濃度粉塵儀,可以同時完成測量PM2.5、PM10、PM1、PM4和15?m顆粒物共5個不同粒徑入顆粒物分析儀,美國TSI DUSTTRAKTMDRX8533/8534型PM2.5、PM10可吸入顆粒物分析儀

    更新時間:2016-05-09
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  • 美國DUSTTRAKTMDRX8533/8534型PM2.5、PM10可吸入顆粒物分析儀

    DUSTTRAKTMDRX8533/8534型PM2.5、PM10可吸入顆粒物分析儀,綜合采用光散射激光光度計和光學粒子計數器(OPC)的測量技術,同時測量質量濃度和粒徑分布。美國DUSTTRAKTMDRX8533/8534型PM2.5、PM10可吸入顆粒物分析儀

    更新時間:2016-05-09
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  • PM10、PM5、PM2.5及TSP切割器

    具有新世紀水平的新型內置濾膜采樣器的微電腦激光粉塵儀, 在連續監測粉塵濃度的同時, 可收集到顆粒物, 從而可對其成份進行分析,并求出質量濃度轉換系數K值。可直讀粉塵質量濃度(mg/m3), 具有PM10、PM5、PM2.5及TSP切割器供選擇.

    更新時間:2016-05-09
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